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通過選擇性p-GaN柵極外延技術在基于GaN的功率器件中實現熱電子硬化效應
《IEEE Transactions on Electron Devices》:Hot-Electron Hardening in GaN-Based Power Devices by Selective p-GaN Gate Epitaxy
【字體: 大 中 小 】 時間:2026年02月25日 來源:IEEE Transactions on Electron Devices 3.2
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選擇性gate epitaxy策略用于增強型HEMT的p-GaN門制備,避免接觸區生長和刻蝕,保留高質量異質結層。相比傳統工藝,器件在6V柵壓下漏極擊穿電壓提升1.5倍,長期半導通應力下導通電阻衰減顯著,且兼容門 recess工藝,通過增厚AlGaN勢壘實現更低導通電阻和正常關斷特性。
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