本文提出了一種基于DFT-IDFT的最小段校準(zhǔn)技術(shù)，用于SAR ADC，專門針對非相干采樣條件下由電容不匹配引起的非線性問題。通過使用多項式余弦和窗函數(shù)，顯著抑制了頻譜泄漏，從而能夠準(zhǔn)確估計非線性比特權(quán)重誤差。該方法利用查找表（LUT）整合DFT/IDFT和窗函數(shù)，大大簡化了ADC誤差提取過程，并采用LDL分解進(jìn)行數(shù)值穩(wěn)定的最小二乘估計。引入了一種新的評估指標(biāo)——最大單音偏移衰減（MSTOA），用于衡量窗函數(shù)在抑制頻譜泄漏方面的有效性。在各種數(shù)字校準(zhǔn)方法中，最小段校準(zhǔn)方法在保持相當(dāng)?shù)挠嬎銖?fù)雜度的同時，顯著提高了校準(zhǔn)精度。這種非迭代的一次性誤差提取方法消除了基于迭代方法的收斂延遲問題。此外，內(nèi)置的自測試（BIST）功能使得可以同時進(jìn)行動態(tài)性能評估。在180納米CMOS工藝實現(xiàn)的20位1 MS/s原型機上的測量結(jié)果表明，校準(zhǔn)后信噪比（SNDR）和信號干擾比（SFDR）分別提高了22.7 dB和27.3 dB。